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High-resolution seismic profiling:

development of acquisition, processing, and interpretation for the practical implementation of the method in shallow sub-surface exploration and engineering
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Instiuut voor Aardwetenschappen der Rijksuniversiteit te Utrecht, 1988 - 136 ページ

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目次

troduction and summary
ii
2_4_2 Considemjons for 31 surveys on tidal shoals
19
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37

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Acquisition Parameters amplitude approximately base changes channel Common-Offset Sections configuration data points data quality dataset datum level deeper reflections defined Denekamp depth dereverberation dipping distance Doomenbal exploration geophysics field conditions field statics figure filter find first arrivals frequency filter geological Geophysics guided wave Helbig high-resolution seismic profiling Holocene influence layer thickness low-velocity layer low-velocity zone Miocene Netherlands noise offset ondiepe onshore output ray-tracing reflection survey reflector refraction refraction interpretation residual statics resolution seismic S-wave Scheldt Sections of model sedimentary seismic exploration seismic facies seismic methods seismic response seismic section seismic signal seismic surveys seismograph shallow reflection shallow seismic shift shot records shotpipe shots and receivers shows spectral Stacked section stacking velocity static corrections structures surface waves tidal deposits tidal flat unconformity unit University of Utrecht Utrecht velocity profile wavelength weathered layer Woerden

書誌情報

QR code for High-resolution seismic profiling
書籍名High-resolution seismic profiling: development of acquisition, processing, and interpretation for the practical implementation of the method in shallow sub-surface exploration and engineering
Geologica Ultraiectina 第 第 55 号 巻
著者Jan Brouwer
出版社Instiuut voor Aardwetenschappen der Rijksuniversiteit te Utrecht, 1988
ページ数136 ページ
  
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